惠普 HP4291B阻抗分析仪 安捷伦4291B

美国HP惠普/Agilent安捷伦4291B阻抗分析仪1MHz-1.8GHz

主要特性与技术指标

4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5mm至20mm）

独立选择2个通道的参数

直接读取介电常数、导磁率（选件）

2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）

多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）

扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）

描述

4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的测量的完整解决方案。与反射测量技术不同，4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在的阻抗范围内提供更精Q的阻抗测量结果。
基本阻抗精度是+/-0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1MHz到1.8GHz，具有1MHz的分辨率。1.8米长的电缆可将分析仪连接到测试站，以便您将测试点延伸到分析仪之外，而不会影响测量精度。X进的矩阵和错误补偿功能消除了夹具的测量错误，确保DUT/MUT的可重复性。

4291B有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Keysight4291B直接控制恒温箱或园片探测器这类外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。

材料评估

4291B能容易地进行全M的材料评估，提高材料评估的质量和效率。4291B提供宽频率范围(1MHz至1.8GHz)介电/磁性材料测量的总体解决方案。

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